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用于半导体器件瞬态热测试的电压采集方法、装置、系统及介质.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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用于半导体器件瞬态热测试的电压采集方法、装置、系统及介质.pdf

    本发明提供一种用于半导体器件瞬态热测试的电压采集方法、装置、系统及介质，所述半导体器件进入工作状态，其两端具有电压，等待开始所述瞬态热测试；用户根据所述半导体器件的实际电压值，在上位机中选择相应的参考电压值和电压量程；所述方法包括接收所述参考电压值及电压量程，据以生成所述实际电压值的取值范围；控制采集模块采集所述半导体器件的电压信号，且将实际电压值符合所述取值范围的电压信号加以存储，并传输至所述上位机。本发明的用于半导体器件瞬态热测试的电压采集方法、装置、系统及介质，实现了以不同的采样率对电压信

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114527317 A (43)申请公布日 2022.05.24 (21)申请号 202011196305.6 (22)申请日 2020.10.30 (71)申请人 上海大学 地址 200436 上海

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