基于数字环形振荡器的芯片电压检测方法和装置.pdfVIP

基于数字环形振荡器的芯片电压检测方法和装置.pdf

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本发明提供了基于数字环形振荡器的芯片电压检测方法和装置。本发明所提供的方法首先分别在两个不同温度下采用多个不同的测试电压对芯片进行测试并分别获得两组RO值,接着根据所获得的两组RO值拟合函数计算得到电压转换系数,然后通过电压转换系数获得两个不同温度所对应的校准电压,以进一步根据校准电压得到温度校准系数,最后利用温度校准系数对电压进行校准,即可获得芯片在特定温度下的实际电压。本发明所提供的技术方案能够采用纯数字逻辑电路来实现对芯片电压的检测,无需额外供电,其采样精度能够达到mV级别并且能够实现对2

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116087756 A (43)申请公布日 2023.05.09 (21)申请号 202310202913.0 (22)申请日 2023.03.06 (71)申请人 瀚博半导体 (上海)有限公司 地址

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