一种低温芯片工作状态的观测装置及观测方法.pdfVIP

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2023-05-11 发布于四川
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一种低温芯片工作状态的观测装置及观测方法.pdf

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本发明涉及低温测试技术领域，具体地说，是一种低温芯片工作状态的观测装置及观测方法，用于低温芯片工作状态及工作环境的测量，观测装置包括密封窗片、透镜、远红外探测阵列、外壳、平移台和计算机；透镜对被测低温芯片的不同区域进行成像，观测时，透镜和远红外探测阵列安装于外壳上，并通过平移台实现整个观测装置的位置移动，使得在某一位置上，被测低温芯片中某一区域的辐射透过密封窗片后成像于远红外探测阵列上，通过计算机上的控制软件分别记录低温芯片不同区域的远红外图像以及这些图像随时间的变化，从而实现对低温芯片工作状态

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114545213 A (43)申请公布日 2022.05.27 (21)申请号 202210270515.8 (22)申请日 2022.03.18 (71)申请人江西万骏光电有限公司地址 335