一种自动化存储芯片测试装置.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.73万字
约 18页
2023-05-12 发布于四川
举报
版权申诉

一种自动化存储芯片测试装置.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了一种自动化存储芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定安装有活动座，所述活动座内转动安装有安装轴，所述安装轴的外部固定套设有顶板，所述安装轴的两侧均套设有复位扭簧。本发明可实现对芯片测试座的自动切换使用，使得能立即进行下次测试，无需等待测试座冷却，节约时间，提升工作效率，且同时可进行对芯片测试座的清理，使得能保证测试座处于干净状态，避免灰尘影响测试座对芯片进行测试，且可在筒体复位清理测试座的同时能实现对附着在气孔内壁上的灰尘震落，使得能将气孔在进行抽取灰尘时附着在其内壁上的灰尘震落

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115598504 A (43)申请公布日 2023.01.13 (21)申请号 202211323125.9 (22)申请日 2022.10.27 (71)申请人深圳国芯人工智能有