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本发明提供一种能够支援半导体元件的设计的设计支援方法、设计支援系统、程序以及存储介质。在实施方式的设计方法中,向模拟器输入包括与半导体元件相关的多个设计值的设计值组。在设计方法中,获取对应于设计值组的输入而从模拟器输出的特性值组。特性值组包括半导体元件的多个特性值。多个特性值包括表示导通电阻的第1特性值和表示耐压的第2特性值。在设计方法中,根据包括1个以上的数据集合的历史数据计算基于贝叶斯估计的获取函数,所述数据集合是所述设计值组和通过向第1函数输入所述特性值组的一部分而计算出的评分的数据集合。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114595653 A
(43)申请公布日 2022.06.07
(21)申请号 202110985646.X
(22)申请日 2021.08.26
(30)优先权数据
2020-201947 202
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