一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法.pdfVIP

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2023-05-12 发布于北京
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一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法.pdf

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本发明涉及高分子材料领域，具体涉及一种新的应用聚集诱导发光荧光探针检测聚合物成膜过程的方法。本发明体提供一种利用荧光探针原位监测聚合物成膜过程的方法，所述监测方法包括如下步骤：1)将聚合物溶液和聚集诱导发光物质共混均匀得聚合物/聚集诱导发光物质混合液；2)采用激光共聚焦显微镜实时监测步骤1)所得均匀的混合液即可实现原位监测聚合物成膜过程。本发明提高一种新的应用聚集诱导发光荧光探针检测聚合物成膜过程的方法，将聚集诱导发光物质如TTVP或TVP做为荧光探针，与聚合物制成分散均匀的混合液，用通过激光诱

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114609102 A (43)申请公布日 2022.06.10 (21)申请号 202210232843.9 (22)申请日 2022.03.09 (71)申请人四川大学地址 610065 四川