一种像元响应非均匀性校正方法、系统、电子设备及介质.pdfVIP

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2023-05-12 发布于四川
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一种像元响应非均匀性校正方法、系统、电子设备及介质.pdf

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本发明公开一种像元响应非均匀性校正方法、系统、电子设备及介质，涉及像元响应校正技术领域，方法包括：获取星载微光成像仪输出的微光观测图像数据；所述微光观测图像数据包括经纬度和辐射值；对所述微光观测图像数据进行预处理；对经过预处理的所述微光观测图像数据，依次进行相对偏差计算和直方图处理，以确定观测图像亮线数据；对所述观测图像亮线数据，依次进行双线性插值处理和映射校正处理，以得到校正后的微光观测图像数据。本发明实现了对星载微光成像仪CCD响应非均匀的动态检测与校正，提升了微光图像质量。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115567651 A (43)申请公布日 2023.01.03 (21)申请号 202211141242.3 (22)申请日 2022.09.20 (71)申请人中国人民解放军61540部队地址