一种对重定位结果进行后检验的方法、芯片及机器人.pdfVIP

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2023-05-12 发布于四川
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一种对重定位结果进行后检验的方法、芯片及机器人.pdf

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本发明公开一种对重定位结果进行后检验的方法、芯片及机器人，该方法包括以下步骤：S1：获取重定位计算后的重定位结果，若重定位结果中的匹配分数大于第一阈值且小于第二阈值，则进入步骤S2；S2：通过重定位结果来更新进行重定位计算的地图，然后行走设定时间或设定距离，并在行走过程中获取环境的点云数据，进入步骤S3；S3：将行走过程中获取的点云数据与更新后的地图进行匹配，然后根据匹配结果来判断重定位成功或重定位失败。通过对重定位的结果进行后检验来加快重定位流程，降低叠图发生的概率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116086450 A (43)申请公布日 2023.05.09 (21)申请号 202111314321.5 (22)申请日 2021.11.08 (71)申请人珠海一微半导体股份有限公司地址