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本发明提出了一种在测量稳定子时避免引入逻辑错误的方法，主要解决传统方法时隙顺序种类局限性大，稳定子时隙形状单一的问题。其实现方案是：构建一个量子旋转晶格的表面码模型；在给出的表面码模型中分析引入逻辑X错误和逻辑Z错误的情况；根据错误引入的情况分别得出在测量X稳定子和Z稳定子时有效避免引入逻辑错误的时隙规律；根据避免引入逻辑错误的规律，进行设计时隙顺序；将设计好的时隙顺序按照要求组合在表面码模型中；按照时隙组合调整对应稳定子的测量线路，验证过程中需在稳定子测量线路中引入同类型的错误，查看测量线路的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116050527 A
(43)申请公布日 2023.05.02
(21)申请号 202310066881.6
(22)申请日 2023.01.17
(71)申请人 西安电子科技大学
地址 7100
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