孔轴偏移量检测治具及其作业方法.pdfVIP

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2023-05-13 发布于北京
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孔轴偏移量检测治具及其作业方法.pdf

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本发明公开了一种孔轴偏移量检测治具及其作业方法，其中，孔轴偏移量检测治具、第一基板、第二基板、固定装置和检测装置，第一基板上设有定位轴和定位孔之任一者，第二基板上设有定位轴和定位孔之另一者，第二基板装配于第一基板时，定位轴插接于定位孔，固定装置用于将第一基板固定在底座上，检测装置用于检测二基板装配于第一基板后，直线推动第二基板时第一基板和第二基板之间的最大相对位移量，以检测定位孔和/或定位轴的偏移量，因此，本发明的孔轴偏移量检测治具能够准确地检测定位孔和/或定位轴的偏移量，从而能够准确判断定位孔

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114646283 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202210393903.5 (22)申请日 2022.04.15 (71)申请人东莞利扬芯片测试有