缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约2.11万字
  • 约 16页
  • 2023-05-13 发布于四川
  • 举报

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf

本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,包括:对待处理图像进行待检测物轮廓提取,得到待检测物的缺陷图;对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取,以获得待检测物的缺陷面积;将所述缺陷面积与第一面积阈值比较,当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值,确定所述待检测物存在缺陷。本申请通过对待检测物的图像进行轮廓提取,可以获取待检测物本体轮廓和缺陷轮廓,再进一步对该缺陷轮廓进行轮廓提取,获得缺陷的轮廓面积,将缺陷的轮廓面积与设定好的面积阈值进行对比后,便可以确定出待检测物存在缺陷。以此实现对目标物品的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114627092 A (43)申请公布日 2022.06.14 (21)申请号 202210291632.2 (22)申请日 2022.03.23 (71)申请人 广东利元亨智能装备股份有限公司 地址

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档