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本发明公开一种调节半导体器件镀膜均匀性的装置及方法,包括:半导体器件,包括第一芯片以及位于第一芯片上的第一焊垫、第一晶圆以及位于第一晶圆上的第二焊垫,第一焊垫和第二焊垫之间相对设置且围成空隙;交换活化装置,位于半导体器件的下方,用于调整镀液的流动状态;槽体,位于半导体器件的下方及侧壁,用于调节镀液交换的速率。通过在半导体器件的下方设置交换活化装置,使镀液在到达第一晶圆表面时能够处于一种高速流动状态,增加第一芯片的第一焊垫与第一晶圆的第二焊垫之间的镀液交换的速率,从而提高半导体器件镀膜的均匀性。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114695147 A
(43)申请公布日 2022.07.01
(21)申请号 202210227890.4
(22)申请日 2022.03.08
(71)申请人 芯知微(上海)电子科技有限公司
地址
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