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电子系统测试方法.pdfVIP

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  • 2023-05-15 发布于四川
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电子系统测试方法.pdf

    本申请公开了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116106654 A (43)申请公布日 2023.05.12 (21)申请号 202111334735.4 (22)申请日 2021.11.11 (71)申请人 瑞昱半导体股份有限公司 地址 中

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