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本发明公开了一种高应变率加载模式下材料瞬态位错密度的表征方法，其步骤包括：将单晶材料样品安装在高应变率动态加载装置的样品夹持区上；建立一时序控制系统并分别与高应变率动态加载装置、X射线衍射装置连接；时序控制系统包括两台数字延迟触发器、应变片、超动态应变仪与电磁阀；第一台数字延迟触发器分别连接并控制X射线衍射装置的电磁阀、白光快门；应变片粘贴在高应变率动态加载装置上，用于触发X射线衍射装置的X射线探测器；高应变率动态加载装置在电磁阀控制下发射投射物进而产生应力波，从而向单晶材料样品加载应力，X射线
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114739867 A
(43)申请公布日 2022.07.12
(21)申请号 202210142208.1
(22)申请日 2022.02.16
(71)申请人 中国科学院高能物理
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