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本发明提供一种可综合的参数化自测试模型结构,包括采用可综合的HDL实现的多个程序顶层模块,所述多个程序顶层模块包含:待测设计模块、激励驱动模块和可综合参考模型模块;所述待测设计模块的数据输入端口和控制信号端口和所述激励驱动模块的输出端口分别连接;所述激励驱动模块的输出端口还分别与所述可综合参考模型模块的输入端口连接;所述待测设计模块是实例化配置完成的IP核;所述参可综合参考模型模块与所述待测设计模块功能相同。通过将通用验证方法学验证平台的部分组件,以可综合硬件描述语言的形式集成到了板级或机台量产
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116029236 A
(43)申请公布日 2023.04.28
(21)申请号 202310309344.X
(22)申请日 2023.03.28
(71)申请人 中科亿海微电子科技(苏州)有限公
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