1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

一种用于TGG晶片检测的光学检测系统.pdfVIP

  • 3
  • 0
  • 约8.93千字
  • 约 8页
  • 2023-05-15 发布于四川
  • 举报

一种用于TGG晶片检测的光学检测系统.pdf

    本发明公开了一种用于TGG晶片检测的光学检测系统，属于TGG晶片检测技术领域，包括晶片光性库、规划模块、检测模块和服务器；所述晶片光性库用于进行TGG晶片的光学特性数据储存；所述规划模块用于进行TGG晶片的光学检测规划，设置TGG晶片检测方案，获取TGG晶片检测区，并根据获得的TGG晶片检测方案在TGG晶片检测区布设相应的检测设备；所述检测模块用于进行TGG晶片的光学检测，通过设置规划模块，为企业设置TGG晶片检测方案，根据设置的TGG晶片检测方案进行检测设备的布设和后续TGG晶片的检测，实现T

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114720097 A (43)申请公布日 2022.07.08 (21)申请号 202210388738.4 (22)申请日 2022.04.13 (71)申请人 安徽科瑞思创晶体材料有限责任公

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >