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本发明涉及一种集成电路测试治具,包括:水平的支撑机构;支撑机构上端固定设有放置机构;放置机构,包括:由下至上依次堆叠放置的下挡板、定位板、上挡板,定位板用以固定集成电路板;放置机构上方设有与支撑机构动连接的平移机构,活动的平移机构以便于放置集成电路板;平移机构和/或支撑机构内设有升降机构,升降机构的电气触发部件由下挡板、上挡板限定。本发明的一种集成电路测试治具,多点测试,无需翻转所测试的集成电路板,通用性好。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114740333 A
(43)申请公布日 2022.07.12
(21)申请号 202210386915.5
(22)申请日 2022.04.13
(71)申请人 淄博职业学院
地址 255000
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