缺陷分类方法和装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-15 发布于四川
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缺陷分类方法和装置、设备及存储介质.pdf

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本申请涉及一种缺陷分类方法和装置、设备及存储介质，其中方法包括：读取当前待进行缺陷分类的缺陷图像，参考图像和缺陷位置；根据缺陷图像和参考图像得到差别图像，并由差别图像中提取出特定特征；其中，特定特征对应当前待进行缺陷分类的缺陷类型；将提取出的特定特征输入至已训练好的分类器中，由分类器根据特定特征对缺陷图像进行缺陷分类。其通过在缺陷分类时，由差别图像中提取与缺陷类型相对应的特定特征，并基于所提取出的特定特征进行相应的缺陷分类，实现了缺陷类型的准确区分，从而能够准确地进行缺陷原因分析，进而改善良率，

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114723647 A (43)申请公布日 2022.07.08 (21)申请号 202011510556.7 G06V 10/774 (2022.01) (22)申请日 2020.12