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本发明公开了一种半导体干刻设备部件的制作工艺,包括以下步骤:根据干刻设备部件的尺寸要求制作基材,并清洗;通过阳极氧化工艺;对经过阳极氧化工艺后的基材进行遮蔽;对基材上未遮蔽的区域进行喷砂;对基材上喷砂后的区域进行干冰喷砂;对基材上进行干冰喷砂后的区域进行等离子熔射;用砥石对基材熔射后的表面进行打磨;用干冰对基材熔射后打磨的表面进行干冰喷砂;对干冰喷砂后的部件进行清洗。本发明提高设备部件抗等离子侵蚀的性能,减少设备部件表面的尖端突起,提高部件表面的清洁度,减少干刻过程颗粒物的产生,提高设备部件的使
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114774918 A
(43)申请公布日 2022.07.22
(21)申请号 202210439348.5 C23C 4/10 (2016.01)
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