1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

动态随机存储器的芯片测试方法及装置.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约9.37千字
  • 约 9页
  • 2023-05-16 发布于四川
  • 举报

动态随机存储器的芯片测试方法及装置.pdf

    本发明提供一种动态随机存储器的芯片测试方法及装置。所述方法包括：对极板节点施加初始化电压并对选中的一列位线预充电；打开选中的字线对目标单元写“1”，在对目标单元写“1”的过程中对极板节点施加大于初始化电压的第一电压；在目标单元写“1”之后，关闭字线，对极板节点施加小于初始化电压的第二电压；等待设定时间之后，读取目标单元；根据读取结果判断目标单元是否正常。本发明能够检测出极板节点噪声电压造成的不良单元。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114765049 A (43)申请公布日 2022.07.19 (21)申请号 202110050366.X (22)申请日 2021.01.14 (71)申请人 中国科学院微电子研究所 地址 10

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >