一种太赫兹双光梳成像系统.pdfVIP

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本发明涉及一种太赫兹双光梳成像系统,包括:第一量子级联激光器、第二量子级联激光器、第一光路、第二光路和频谱分析仪;所述第一量子级联激光器以光频梳模式工作,作为采样光频梳源,用于发出太赫兹光;所述第一光路用于将所述太赫兹光汇聚至待测样品上,得到采样光频梳信号;所述第二光路用于将透过所述待测样品的采样光频梳信号耦合到所述第二量子级联激光器的谐振腔内;所述第二量子级联激光器以光频梳模式工作,作为本征光频梳,用于实现采样光频梳信号和本征光频梳信号的多外差拍频得到双光梳信号;所述频谱分析仪用于对双光梳信号

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116008218 A (43)申请公布日 2023.04.25 (21)申请号 202211599835.4 (22)申请日 2022.12.14 (71)申请人 中国科学院上海微系统与信息技术

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