一种测量低维材料面内光学各向异性的方法.pdfVIP

一种测量低维材料面内光学各向异性的方法.pdf

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本发明提出一种利用多向激发表面等离子体共振全息显微术测量低维材料面内光学各向异性的方法。激光器发出的细激光束经过扩束准直系统后形成线偏振平行光,经过光束入射方向控制装置和光束偏振态调控装置后,进入表面等离子体共振激发装置并激发表面等离子体波,与放置于激发装置上方的样品发生相互作用后形成携带样品信息的物光波,引入一束与物光波相干的已知光束作为参考光波,二者进入全息成像系统,相互干涉并在相机靶面形成离轴全息图。通过多次改变光束的入射角和面内投影方向,得到多幅全息图,由计算机读取后进行数值重建及数据拟

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114858759 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210516591.2 (22)申请日 2022.05.12 (71)申请人 西北工业大学 地址 710072

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