一种基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法及装置.pdfVIP

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2023-05-18 发布于北京
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一种基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法及装置.pdf

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本发明涉及一种基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法及装置，该方法包括：获取目标特征分析模型，目标特征分析模型包括图像分割模块和特征提取模块；获取待检测的磁块器件表面图片；将待检测的磁块器件表面图片分割成若干个图像片段，从图像片段中提取出特征图片；通过改进现有的SimOTA锚框分配策略，计算所有候选框的长宽比和面积占比，从而自适应调整候选框的个数，并对每个锚框的IOU值加权，为特征图片中的磁块器件表面缺陷分配锚框。充分考虑了特征图片中较多的缺陷区域的细节信息。本发明提供的一种基于改进Si

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114862822 A (43)申请公布日 2022.08.05 (21)申请号 202210586259.3 G06N 3/08 (2006.01)