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包括GaAs或者由GaAs组成的堆叠状的III‑V族半导体二极管具有高n型掺杂的阴极层、高p型掺杂的阳极层和布置在所述阴极层和所述阳极层之间的漂移区,其中,所述漂移区具有低n型掺杂的漂移层和低p型掺杂的漂移层,所述n型掺杂的漂移层布置在所述p型掺杂的漂移层和所述阴极层之间,两个漂移层分别具有至少5μm的层厚度并且沿着相应的层厚度具有最高8·1015cm‑3的掺杂剂浓度最大值,所述两个漂移层的掺杂剂浓度最大值彼此之间具有0.1至10的比值,并且,所述n型掺杂的漂移层的层厚度与所述p型掺杂的漂移层的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114914290 A
(43)申请公布日 2022.08.16
(21)申请号 202210116254.4
(22)申请日 2022.02.07
(30)优先权数据
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