一种存储器单粒子效应测试系统、方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-05-23 发布于四川
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一种存储器单粒子效应测试系统、方法及装置.pdf

本申请公开了一种存储器单粒子效应的测试系统、方法及装置,所述测试系统包括辐照板,其上设置有存储器;测试板,其上设置有FPGA器件,所述FPGA器件与所述存储器电连接,对所述存储器进行数据写入和/或数据读出;发射装置,用于发射重离子微束;控制平台,用于控制所述辐照板相对所述发射装置进行水平和/或上下位移;其中,所述FPGA器件上设置有第一反馈线路和第二反馈线路,分别用于输出不同的单粒子效应反馈信号。本申请实施例通过为不同单粒子效应设置不同的反馈线路和反馈机制,使得被测器件上的单粒子翻转效应区域和单

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112164418 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202011073590.2 (22)申请日 2020.10.09 (71)申请人 湘潭大学 地址 41

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