一种CCD上下协同测试机构.pdfVIP

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  • 2023-05-23 发布于四川
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本发明公开了一种CCD上下协同测试机构,包括治具、上层CCD装置以及下层CCD装置,所述治具上表面设有凹槽A,所述凹槽A的槽底设有镂空部A并使所述凹槽A的槽底形成一环形槽底A,所述贴合区和所述产品本体沿竖直方向投影于所述镂空部A,所述环形非贴合区沿竖直方向投影于所述环形槽底A上且所述环形槽底A支撑所述环形非贴合区,所述上层CCD装置设于所述凹槽A的上侧并用于采集产品本体上表面的图像,所述下层CCD装置设于所述凹槽A的下侧并用于采集产品本体下表面的图像。本发明公开的上下协同测试机构,取消多工位,只

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112161991 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202011048603.0 (22)申请日 2020.09.29 (71)申请人 苏州鼎纳自动化技术有限公司

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