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2023-05-24 发布于四川
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一种MCU低功耗模式切换的测试方法、装置及系统.pdf

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本发明涉及MCU测试技术领域，具体公开了一种MCU低功耗模式切换的测试方法，其中，包括：根据上位机的测试指令向待测试MCU发送进入低功耗模式测试模式的控制信号；获取处于低功耗模式下的待测试MCU的第一状态检测信号；向所述待测试MCU发送唤醒信号，所述唤醒信号用于使得待测试MCU退出低功耗模式；获取退出低功耗模式的待测试MCU的第二状态检测信号；根据所述第一状态检测信号与所述第二状态检测信号的比较判断待测试MCU的低功耗模式切换是否正常，并得到判断结果；将所述判断结果发送至所述上位机进行显示。本发

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112198865 A (43)申请公布日 2021.01.08 (21)申请号 202011048695.2 (22)申请日 2020.09.29 (71)申请人中电海康无锡科技有限公司

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