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一种固态硬盘老化产生坏块的解析方法、装置.pdfVIP

一种固态硬盘老化产生坏块的解析方法、装置.pdf

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    本发明提供一种固态硬盘老化产生坏块的解析方法、装置，所述的方法包括如下步骤：老化测试过程将坏块信息存储于存储器；将存放坏块的存储器进行地址划分；按划分的地址分块提取坏块信息；将提取的坏块信息按照坏块结构进行解析；将解析后的坏块信息写入数据库。该方法用于SSD生产阶段FT2工站解析坏块信息，快速定位故障颗粒位置，减少了故障盘维修时间和测试成本。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112216338 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202011109054.3 (22)申请日 2020.10.16 (71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司

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