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本发明提供了一种测试组件及集成电路测试机，其中，所述测试组件包括核心逻辑单元，所述核心逻辑单元根据接收的数据格式描述文件和时钟信号输出与所述时钟信号的周期同步的测试信号；并可根据外部的可编程信号改写内部逻辑。如此配置，产生了如下有益效果：1)可通过更改所述数据格式描述文件适配较小的测试任务改动；2)可通过所述可编程信号适配较大的测试任务改动；3)通过产生与所述时钟信号的周期同步的测试信号，有助于提高多个测试组件之间的一致性，消除高通用性元件的时基精度不足的缺陷。通过上述有益效果，本发明提供的测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112255527 A
(43)申请公布日 2021.01.22
(21)申请号 202011018344.7
(22)申请日 2020.09.24
(71)申请人 胜达克半导体科技（上海）有限公司
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