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2023-05-25 发布于四川
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提供一种质谱分析装置，获得减轻了高频噪声的影响的品质良好的质谱。质谱分析装置具备离子阱和TOF质谱分析器，重复执行在将源自试样成分的离子捕捉到离子阱之后从离子阱射出离子并利用TOF质谱分析器对离子进行分析的动作，还具备：捕捉电压产生部，对离子阱施加离子捕捉用的高频电压；射出电压产生部，施加相位与高频电压的相位同步的离子射出用电压；控制部，在TOF质谱分析器进行质谱分析的期间进行控制，使得将接下来要分析的离子导入并捕捉到离子阱中；空白信号获取部，在使离子阱进行了动作的状态下获取测定期间或测定窗中的

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112216594 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202010567636.X (22)申请日 2020.06.19 (30)优先权数据 2019-1287

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