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本公开实施例公开了一种半导体结构及其制作方法、存储器,其中,所述半导体结构包括:多个存储单元、多条字线、多条位线;多个存储单元构成阵列,每一存储单元包括存储结构和位于存储结构上方的晶体管;晶体管包括柱状栅极、介质层及有源层,介质层覆盖柱状栅极的至少部分侧壁及底面,有源层覆盖介质层的侧壁,有源层的底面电连接存储结构;每条位线沿第二方向延伸,电连接同一列的有源层;每条字线沿第一方向延伸,电连接同一行的柱状栅极;第一方向和第二方向相交且均垂直于柱状栅极延伸的方向;有源层底面沿第一方向的尺寸大于有源层顶
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116156874 A
(43)申请公布日 2023.05.23
(21)申请号 202211297073.2
(22)申请日 2022.10.21
(71)申请人 长鑫存储技术有限公司
地址 23
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