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本发明公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。本发明实施例能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112382335 B
(45)授权公告日 2022.06.21
(21)申请号 202011277551.4 (56)对比文件
(22)申请日 2020.11.16
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