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本发明公开了一种针对插卡设备的自动老化和校验系统及方法。系统包括：一个以上插卡设备、扩展板、电源装置和控制装置；扩展板包括用于插接SD卡的扩展槽、两个切换开关以及开关控制芯片；控制装置用于发送指令给开关控制芯片，以控制第一切换开关将SD卡与一个插卡设备接通或断开，和/或，控制第二切换开关将SD卡与控制装置接通或断开；以及，发送指令给电源装置将插卡设备和/或扩展板接通电源或断开电源；控制装置还用于对SD卡进行量产操作；插卡设备用于向完成量产操作的SD卡录制信息，进行老化测试；控制装置还用于对已完成
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112364671 A
(43)申请公布日 2021.02.12
(21)申请号 202011275718.3
(22)申请日 2020.11.16
(71)申请人 深圳市硅格半导体有限公司
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