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本发明公开的一种坐标测量设备计量特性校准的标准件，属于几何量仪器测试校准领域。本发明包括四个圆球组成的测量基准和系列几何特征。系列特征包括凹凸球面、内、外锥面、内外圆柱面、系列直槽、系列圆柱盲孔、斜槽、垂向楔角和具有叶片形状曲线、曲面特征。本发明复合了多种几何形状特征，执行校准时根据需要进行特征组合，同时满足不同测量设备的计量特性校准需求；本发明包含叶片特征的复杂曲面结构，实现叶片坐标接触式测量和光学非接触式扫描测量下叶型参数的量值溯源需求，保证叶片叶型参数评价结果的一致性。本发明包含沟槽和小孔
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112362011 B
(45)授权公告日 2022.06.03
(21)申请号 202011280407.6 (56)对比文件
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