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- 2023-05-28 发布于四川
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本公开提供一种改善寄生沟道效应的NS‑FET制备方法,包括:操作S1:在衬底上生长外延层并在外延层上制备掩膜;操作S2:对应所述掩膜刻蚀部分衬底形成鳍条部,刻蚀整个外延层形成沟道部;操作S3:在所述鳍条部的两侧台面区填充隔离材料形成隔离区;操作S4:制备侧墙包裹所述沟道部;操作S5:去除部分所述隔离材料并刻蚀窄化裸露出的鳍条部生成鳍条,去除所述侧墙及所述掩膜后制作栅极和源漏,完成改善寄生沟道效应的NS‑FET的器件制备。本公开还提供一种改善寄生沟道效应的NS‑FET。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112349591 A
(43)申请公布日 2021.02.09
(21)申请号 202011167515.2
(22)申请日 2020.10.27
(71)申请人 中国科学院微电子研究所
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