材料特性测试方法、装置、电子设备和存储介质.pdfVIP

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2023-05-28 发布于四川
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材料特性测试方法、装置、电子设备和存储介质.pdf

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本申请涉及一种材料特性测试方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括：测试PCB组件在当前测试环境下的初始S参数；获取测试连接件在所述当前测试环境下的连接件S参数，所述测试连接件用于连接所述PCB组件和所述S参数测试设备；基于所述连接件S参数对所述初始S参数进行去嵌处理，根据去嵌处理的结果获取所述PCB组件的目标S参数。采用本方法能够提升组件的S参数的准确性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112345912 A (43)申请公布日 2021.02.09 (21)申请号 202011022056.9 (22)申请日 2020.09.25 (71)申请人曙光信息产业（北京）有限公司