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- 2023-05-28 发布于四川
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本发明提供了一种高低温锥光干涉测量装置及方法，包括使一束可见波段的激光依次通过置于高低温试验箱中的两个45°放置的平面反射镜、起偏镜、毛玻璃、待测晶体、检偏镜，然后经观察窗口射出后用透射光屏接收透射光点和锥光干涉图样。利用五维精密调节架调节激光入射方向，利用透射光点在锥光干涉图样中的位置指示激光入射方向，通过调节使透射光点位于锥光干涉图样的对称中心，此时激光垂直于待测晶体的端面入射；通过平移激光器，可以观察晶体通光截面内不同区域的锥光干涉图样。本发明能够测量双折射晶体在不同温度下的锥光干涉图样，
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112378862 A
(43)申请公布日 2021.02.19
(21)申请号 202011246097.6
(22)申请日 2020.11.10
(71)申请人 河南工程学院
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