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本发明公开了一种用于芯片的用电功耗的实时检测系统，具体涉及芯片检测技术领域，包括负载参数控制单元，所述负载参数控制单元的输出端与测试芯片的输入端电连接，所述测试芯片的输入端分别与温度变量调节模块、其他变量调节模块和运行状态控制单元的输出端电连接，所述测试芯片的输出端与芯片功耗测量单元的输入端电连接。本发明通过调节温度变量、其他变量、输入不同负载参数和芯片不同运行状态获取芯片在各种情况下所产生的功耗，达到了多方位多角度全面实时检测的工作，进而可以快速、客观和精确的反映测试芯片功耗的大小，以此可以得
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112433091 A
(43)申请公布日 2021.03.02
(21)申请号 202011400890.7
(22)申请日 2020.12.04
(71)申请人 武汉轻工大学
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