一种非易失性存储器应用级擦写寿命评价方法.pdfVIP

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2023-05-30 发布于四川
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一种非易失性存储器应用级擦写寿命评价方法.pdf

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本发明公开了一种非易失性存储器应用级擦写寿命评价方法。针对不同应用领域对非易失性存储器擦写寿命要求不同的情况，在芯片可靠性认证中加入应用级擦写寿命测试，尽可能多地覆盖应用场景，统计和分析应用场景中的应用文件和应用数据更新频次，模拟应用中的存储空间分配和擦写寿命频次，测试非易失性存储器应用级擦写寿命。本发明提出的应用级擦写寿命测试方法，有效地评价非易失性存储器的应用级可靠性水平。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112435706 A (43)申请公布日 2021.03.02 (21)申请号 202011226061.1 (22)申请日 2020.11.05 (71)申请人北京中电华大电子设计有限责任公