1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

芯片测试机及芯片测试方法.pdfVIP

  • 10
  • 0
  • 约1.9万字
  • 约 20页
  • 2023-05-30 发布于四川
  • 举报

芯片测试机及芯片测试方法.pdf

    本发明公开一种芯片测试机及芯片测试方法，芯片测试机包括机架，以及设置于机架上的移载装置、测试装置、自动上料装置、自动下料装置及不良品放置台，自动上料装置包括第一料仓及自动上料机构，自动上料机构在所述第一料仓内上下移动；自动下料机构包括第二料仓及自动下料机构，自动下料机构在第二料仓内上下移动，移载装置位于自动上料装置、自动下料装置、测试装置及不良品放置台的上方，移载装置将自动上料装置的待测试芯片移动至测试装置，并将测试完成的芯片移动至自动下料装置或不良品放置台。本发明的芯片测试机的结构紧凑、体积较

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112444734 A (43)申请公布日 2021.03.05 (21)申请号 202011356354.1 (22)申请日 2020.11.26 (71)申请人 苏州韬盛电子科技有限公司

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >