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本发明提供一种基于缺陷分析的精准测试分析方法、装置,该方法包括如下步骤：将缺陷样本进行缺陷预处理，分析出缺陷功能点；使用缺陷分析法计算缺陷功能点的遗留缺陷数；根据遗留缺陷数、满足功能出口条件的缺陷发现率及项目规划的测试时间，确定基础风险值；分析缺陷功能点的关联关系及关联概率，计算缺陷功能点的关联风险值；根据基础风险值、缺陷功能点的关联风险值，计算缺陷功能点的风险值；根据缺陷功能点的风险值选取测试用例。能有效的提升测试命中率，提升版本测试质量、效率，有效的保障产品固有的业务功能，为回归验证范围确定
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112463584 B
(45)授权公告日 2022.07.08
(21)申请号 202011174762.5 审查员 陆丹
(22)申请日 2020.10.28
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