一种半导体开路测试机.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.07万字
约 11页
2023-05-30 发布于四川
举报
版权申诉

一种半导体开路测试机.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了一种半导体开路测试机，本发明通过设置两个多路复用器，一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Force信号，另一个多路复用器的复用端连接参数测量单元通道的Sense信号，两个多路复用器的多路端按照顺序一一连接后共同连接至对应的测试通道，两个多路复用器可以独立控制，亦可实现配对使用。当独立控制时，两个多路复用器可以各自选通不同的测试通道，当配对使用时，两个多路复用器会同时选通同一个测试通道，相当于被选通的测试通道就近短接Force和Sense，可以实现远端SENSE，可以抵消线缆及

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115808609 A (43)申请公布日 2023.03.17 (21)申请号 202211427293.2 (22)申请日 2022.11.15 (71)申请人胜达克半导体科技（上海）有限公司地