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结合存储器访问的有缺陷的位线管理.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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结合存储器访问的有缺陷的位线管理.pdf

    本文的示例涉及在施加编程或擦除电压之前确定存储器区域中的有缺陷的位线的数量。如果使用在编程或擦除验证操作期间通过的位线的阈值数量来判断编程或擦除操作是通过还是失败，则可以使用所确定的有缺陷的位线的数量调节所确定的通过还是失败的数量。在一些情况下，本文描述的示例可以避免使用额外的位线和查找表电路在有缺陷的位线处使用，并且节省硅空间和与使用额外的位线相关联的成本。在一些示例中，可以通过考虑有缺陷的位线的数量来确定编程电压信号的起始幅值。在一些示例中，可以使用开路或短接的位线的识别来结合执行软位读取校

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112466373 A (43)申请公布日 2021.03.09 (21)申请号 202010592727.9 G11C 16/26 (2006.01)

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