面向同步测试或类同步测试的探针转接件及插座匹配方法.pdfVIP

下载本文档

0
0
约1.71万字
约 16页
2023-05-30 发布于四川
举报
版权申诉

面向同步测试或类同步测试的探针转接件及插座匹配方法.pdf

1、本文档共16页，其中可免费阅读15页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明面向同步测试或类同步测试的探针转接件及插座匹配方法属于半导体测试技术领域；该方法包括插入待测试芯片，调整弯曲结构方向，插入转接探针，测试第一组转接探针，测试第二组转接探针，测试第三组转接探针，测试第四组转接探针，再调整弯曲结构方向和拔出探针转接件九个步骤；本发明方法不仅能够降低转接探针与插座的对准难度，不容易损坏转接探针，实现了拆装过程可逆，有利于进行重复性测试，而且还能够解决大电流下转接探针之间放电而造成短路的问题，更重要的是，同发明专利《一种探针及插座结构》及《一种探针及插座匹配方法》

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112462106 B (45)授权公告日 2021.06.15 (21)申请号 202011365958.2 (22)申请日 2020.11.29 (65)同一申请的