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枢轨静态接触电阻测试装置及应用.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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枢轨静态接触电阻测试装置及应用.pdf

    本发明涉及枢轨静态接触电阻测试装置及应用，属于电磁轨道发射技术领域。本发明首次提出在枢轨间有压力条件下利用直流低电阻仪，通过高电流位、高电压位、低电流位、低电压位的配合来直接测出枢轨间静态接触电阻。本发明利用四柱平压机给枢轨间提供预紧力以及改变枢轨间的静态接触压力，利用四线法原理测试枢轨间的静态接触电阻，并且用直流低电阻仪读取接触电阻数值，从而得到不同接触压力下的枢轨间静态接触电阻数值，有效的模拟了枢轨实际服役工况，具有操作简单、数据读取方便等特点。本发明装置设计合理，应用工艺简单可控，所得数据

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115808572 A (43)申请公布日 2023.03.17 (21)申请号 202211671165.2 (22)申请日 2022.12.26 (71)申请人 中南大学 地址 410083 湖

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