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- 2023-05-30 发布于四川
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本发明涉及一种具有表面和体内双沟道的横向超结薄层SOI‑LDMOS器件,属于半导体功率器件技术领域。该器件在传统表面栅薄层SOI‑LDMOS器件上,在埋氧层处额外引入体内栅极并在漂移区引入P型埋层,优点:(1)在正向导通时,该器件的表面与体内同时形成两个导电沟道,使电子的注入能力有很大的提升,从而降低器件的比导通电阻。引入的P型埋层提高了漂移区N型层的浓度进而优化器件的正向导通性能,最终降低器件的比导通电阻。(2)在击穿时,P型埋层优化漂移区的电场强度分布,P型埋层与N型层相互耗尽从而使漂移区发
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112420846 A
(43)申请公布日 2021.02.26
(21)申请号 202011417175.4
(22)申请日 2020.12.04
(71)申请人 重庆邮电大学
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