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本发明涉及一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法，所述方法包括如下步骤：S1.利用离子源将同分异构体化合物离子化产生同分异构体离子；S2.调节碰撞池的入口与出口之间的电势差为30～45V，使S1.所得离子通过碰撞池；S3.同分异构体化合物离子从碰撞池进入离子淌度谱中分离，质量分析器检测并获得质谱图。本发明提高碰撞池入口和出口的电势差，降低同分异构体离子的共存构象数，提高其在离子淌度谱中的分离度，本发明的方法可以提高同分异构体的离子淌度谱峰分辨率2～3倍，增强了对同分异构体的鉴别能力。本发明未对现
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112461913 B
(45)授权公告日 2022.02.22
(21)申请号 202011231739.5 审查员 李新科
(22)申请日 2020.11.06
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