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2023-05-31 发布于四川
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一种集成电路测试装置.pdf

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本发明公开了一种集成电路测试装置，包括：第一支撑板、一对第一滑槽、一对第一滑块、支撑架、限位柱；电机，固定连接在支撑架的上表面上，电机的出口端通过联轴器连接有丝杆，丝杆的外壁上同轴固定连接有转动柱；转轴，通过轴承转动连接在支撑架的正面；T形板，焊接在支撑架的正面，T形板上滑动连接有移动板，移动板的下端焊接有罩壳，罩壳的下端固定连接有测试探针本体；第一夹具，位于支撑架的前方，固定连接在第一支撑板的上表面；第二夹具，位于第一夹具的右侧，固定连接在第一支撑板的上表面，通过第一夹具与第二夹具之间的相互配

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112485642 A (43)申请公布日 2021.03.12 (21)申请号 202011300398.2 (22)申请日 2020.11.19 (71)申请人合肥高地创意科技有限公司

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