存储颗粒质量的批量测试系统、方法、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-31 发布于四川
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本申请涉及一种存储颗粒质量的批量测试方法系统、方法、计算机设备及存储介质，其中该系统包括：主机端，所述主机端通过USB、网口及CAN总线的方式与MCU控制板连接，用于进行测试软件的下发和测试数据的收集分析；MCU控制板，用于将从所述主机端接收的数据分发到多个串口，并以金手指的形式将电源、串口数据及控制信号下发到测试单元阵列平台；测试单元阵列平台，用于将所述MCU控制板传递来的多路串口进行串口数量上的扩展；测试单元，所述测试单元通过串口与所述测试单元阵列平台对接，接收测试软件对存储颗粒执行具体的测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112509631 A (43)申请公布日 2021.03.16 (21)申请号 202011560282.2 (22)申请日 2020.12.25 (71)申请人东莞记忆存储科技有限公司