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本发明涉及生产自动化设备技术领域,公开一种芯片检测分选设备。该设备包括:吸取检测组件,包括运动平台、设置在运动平台上的检测模块和吸附件;芯片料盘放置包括用于放置芯片的芯片料盘;滚轮流道组件用于承接芯片载具,并使芯片夹具与所述芯片载具相分离,待芯片被吸取后芯片夹具复位;相机模组用于检测吸附件的位置和角度信息;所述检测模块用于对芯片进行检测,在检测符合要求后进行等级识别,并确定芯片和芯片料盘的位置信息;根据所述位置和角度信息,驱动所述吸附件平移吸取芯片,并将芯片放置在对应级别的所述芯片料盘上。本发明
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113426701 A
(43)申请公布日 2021.09.24
(21)申请号 202110605814.8 B07C 5/36 (2006.01)
(22)申请日 20
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